SN74BCT8240A Datenblatt-PDF - TI

Hersteller:
TI
Beschreibung:
IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Inverting Buffers
Dokumentation:

SN74BCT8240A Datenblatt PDF (26 Seiten) heiß

Abmessungen des Paketumrisses on Seite 21

Aktualisierte Zeit: 2024/07/29 02:15:15 (UTC+8)

SN74BCT8240A Datenblatt-PDF (26 Seiten)

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SN74BCT8240A Dokumente

SN74BCT8240A Datenblatt PDF

26 Seiten, 396 KB

Scan Buffer/Line Driver 8CH Inverting 3-ST BiCMOS 24Pin SOIC Tube

Scan Buffer/Line Driver 8CH Inverting 3-ST BiCMOS 24Pin SOIC T/R

Scan Buffer/Line Driver 8CH Inverting 3-ST BiCMOS 24Pin PDIP Tube

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Inverting Buffers

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