SN74ABT8646DWRG4 Datenblatt-PDF - TI

Hersteller:
TI
Kategorie:
Logic Control, Logic Gate IC
Fallpaket:
SOIC-28
Beschreibung:
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
Dokumentation:

SN74ABT8646DWRG4 Datenblatt PDF (35 Seiten) heiß

Abmessungen des Paketumrisses on Seite 27 Seite 29 Seite 30

Aktualisierte Zeit: 2024/05/30 00:13:49 (UTC+8)

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SN74ABT8646DWRG4 Dokumente

SN74ABT8646DWRG4 Datenblatt PDF

35 Seiten, 723 KB

Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers

Bus XCVR Single 8CH 3-ST 28Pin SOIC Tube

Bus XCVR Single 8CH 3-ST 28Pin SSOP Tube

Bus XCVR Single 8CH 3-ST 28Pin SSOP T/R

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Bus XCVR Single 8CH 3-ST 28Pin SSOP Tube

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers 28-SOIC -40℃ to 85℃

Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers 28-SSOP -40℃ to 85℃

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